某可靠性工程师想要研究电子设备的晶体管之间的漏电情况。当漏电达到某个阈值时，电子设备会失效。为了加快检验的失效速度，检验设备的温度比正常温度高得多。每两天检查设备的失效情况。

工程师执行了加速寿命试验，以估计设备在正常操作条件 (55° C) 和最坏情况操作条件 (85° C) 下失效所需的时间。工程师想确定 B5 的寿命（5% 的设备失效所需的估计时间）。